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Materials-Enabled Patterning Helps Eliminate Trade-Offs in PPAC

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【應材專家晶片談】晶片縮小的同時,成本卻急遽上升?

應材技術專家Regina Freed分享,
因為先進製程含有許多材料層,
而這些種類不同、尺寸不一的材料層,
最終卻要完好地相互連接,並且要一致地縮小架構,
提高了晶片工藝技術的複雜性。

Q1 沒有達到上述兩個條件會如何?
造成邊緣位置錯誤 (Edge placement errors, EPE),提高電阻值並降低效能,導致良率下降。

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Q2 有什麼方法可以解決呢?
過去透過各個製程步驟來改善,但應材從材料本質切入解決,還協助客戶減少製程步驟、降低研發成本,並加速進入市場!

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Q3 進行先進製程中會遇到什麼問題嗎?
應材專家提出先進製程會遇到的三大挑戰及解決方案!

1️⃣ 使用四重圖案化技術縮小時,多次的沉積及蝕刻會增加成本和複雜性外,也會劣化特徵尺寸 (critical dimension) 的解析度。
解決方案 👉 方形間隔側牆 (Square Spacers)

2️⃣ 傳統的微影及蝕刻技術不論在水平或是垂直方向,圖形之間的距離均有最小極限。當需求無法滿足時,製造商就被迫增加製程步驟來彌補其不足。
解決方案 👉 橫向蝕刻 (Lateral Etch)

3️⃣ 為了解決邊緣位置錯誤 (EPE),進行沉積時將面臨兩項挑戰,一為晶圓的潔淨度,二為材料垂直沉積時,也會增加水平的厚度。因為這些挑戰,大部份的選擇性沉積膜必須非常薄。
解決方案 👉 選擇性製程技術 (Selective Processing)

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http://blog.appliedmaterials.com/materials-enabled-patterning
by 應材圖案化技術部門協理Regina


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